Výsledky vyhledávání

  1. 1. 0443489 - UPT-D 2016 CZ cze I - Interní tisk
    Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Neděla, Vilém - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Kolařík, Vladimír - Mrňa, Libor - Jedlička, Petr - Mika, Filip - Jurák, Pavel - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Pokorný, Pavel - Oulehla, Jindřich - Starčuk jr., Zenon
    Průvodce aplikačními možnostmi Ústavu přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    [Handbook of application capacities of the Institute of Scientific Instruments of the ASCR, v. v. i.]
    Brno: ÚPT AV ČR, 2012. 68 s. ISBN 978-80-87441-05-3
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments of the ASCR * application capacities
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246202
     

  2. 2. 0443304 - UPT-D 2016 CZ cze I - Interní tisk
    Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Neděla, Vilém - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Kolařík, Vladimír - Mrňa, Libor - Jedlička, Petr - Mika, Filip - Jurák, Pavel - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Pokorný, Pavel - Oulehla, Jindřich - Starčuk jr., Zenon
    Handbook of application capacities of the Institute of Scientific Instruments of the ASCR, v. v. i.
    Brno: ÚPT AV ČR, 2012. 76 s. ISBN 978-80-87441-06-0
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments of the ASCR * application capacities
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246043
     

  3. 3. 0443303 - UPT-D 2016 CZ eng I - Interní tisk
    Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Neděla, Vilém - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Kolařík, Vladimír - Mrňa, Libor - Jedlička, Petr - Mika, Filip - Jurák, Pavel - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Pokorný, Pavel - Oulehla, Jindřich - Starčuk jr., Zenon
    Handbook of application capacities of the Institute of Scientific Instruments of the ASCR, v. v. i.
    Brno: ÚPT AV ČR, 2010. 68 s. ISBN 978-80-87441-00-8
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments of the ASCR * application capacities
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246042
     

  4. 4. 0443301 - UPT-D 2016 CZ cze I - Interní tisk
    Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Neděla, Vilém - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Kolařík, Vladimír - Mrňa, Libor - Jedlička, Petr - Mika, Filip - Jurák, Pavel - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Pokorný, Pavel - Oulehla, Jindřich - Starčuk jr., Zenon
    Průvodce aplikačními možnostmi Ústavu přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    [Handbook of application capacities of the Institute of Scientific Instruments of the ASCR, v. v. i.]
    Brno: ÚPT AV ČR, 2010. 68 s. ISBN 978-80-87441-02-2
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments of the ASCR * application capacities
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246019
     

  5. 5. 0395127 - UPT-D 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Mikmeková, Eliška - Bouyanfif, H. - Lejeune, M. - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Unčovský, M. - Frank, Luděk
    Very low energy electron microscopy of graphene flakes.
    Journal of Microscopy. Roč. 251, č. 2 (2013), s. 123-127 ISSN 0022-2720
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: graphene * very low energy STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.150, rok: 2013
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225233
     

  6. 6. 0387264 - UPT-D 2013 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Pokorná, Zuzana - Müllerová, Ilona
    Overview of SEM developments and potential.
    EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress. vol. 2. Manchester: The Royal Microscopical Society, 2012, s. 121-122. ISBN 978-0-9502463-6-9.
    [EMC 2012. European Microscopy Congress /15./. Manchester (US), 16.09.2012-21.09.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: low energy SEM * multichannel SEM * STEM in SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216387
     

  7. 7. 0386449 - UPT-D 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Mikulík, P.
    Mapping of dopants in silicon by electron injection.
    Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
    [Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: mapping of dopants in sillicon * electron injection
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215756
     

  8. 8. 0386448 - UPT-D 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikulík, P. - Humlíček, J. - Hovorka, Miloš - Kulha, P. - Kadlec, F.
    Education and research at clean room laboratory for silicon device technology at Masaryk University.
    Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
    [Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: silicon device technology * education and research * clean room laboratory
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215746
     

  9. 9. 0385193 - UPT-D 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Pokorná, Zuzana
    Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field.
    Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756 ISSN 1996-1944
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.247, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214527
     

  10. 10. 0383741 - UPT-D 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
    A method of imaging ultrathin foils with very low energy electrons.
    Ultramicroscopy. Roč. 119, AUG (2012), s. 79-81 ISSN 0304-3991
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: very low energy STEM * penetration of very slow electrons * graphene
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.470, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213588