Search results

0582247 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Journal Article
Tkachenko, V. - Lipp, V. - Buescher, M. - Capotondi, F. - Hoeppner, H. - Medvedev, Nikita - Pedersoli, E. - Prandolini, M.J. - Rossi, G.M. - Tavella, F. - Toleikis, S. - Windeler, M. - Ziaja, B. - Teubner, U.
Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride.
Scientific Reports. Roč. 11, č. 1 (2021), č. článku 5203. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
R&D Projects: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552
Institutional support: RVO:61389021
Keywords : XUV * X-ray * silicon nitride
OECD category: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impact factor: 4.997, year: 2021
Method of publishing: Limited access
https://www.nature.com/articles/s41598-021-84677-w
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0350345

0578067 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Journal Article
Lukeš, Jakub - Kanclíř, Vít - Václavík, Jan - Melich, Radek - Fuchs, U. - Žídek, Karel
Optically modified second harmonic generation in silicon oxynitride thin films via local layer heating.
Scientific Reports. Roč. 13, č. 1 (2023), č. článku 8658. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA23-08020S
Institutional support: RVO:61389021
Keywords : silicon nitride * strong second harmonic generation * thin films
OECD category: Coating and films
Impact factor: 4.6, year: 2022
Method of publishing: Open access
https://www.nature.com/articles/s41598-023-35593-8
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0347092

0566394 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Sháněl, O. - Schneider, M. - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
Si3Nx fázová destička pokrytá vodivou vrstvou.
[Si3Nx phase plates covered by conductive layer.]
Internal code: APL-2022-15 ; 2022
Technical parameters: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu, která je pokrytá tenkou vodivou molybdenovou vrstvou. Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Z membrány je vytvořena fázová destička tím, že je v jejím středu udělaný otvor optimalizovaných rozměrů pomoci technologie fokusovaného iontového svazku. Tloušťka molybdenové vrstvy je optimalizovaná pro výsledný fázový posuv pi/2. Součástí funkčního vzorku je modifikovaný držák apertur, který umožňuje její umístění do zadní ohniskové roviny transmisního elektronového mikroskopu.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337734

0550697 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Sháněl, O. - Schneider, M. - Materna Mikmeková, Eliška - Řiháček, Tomáš - Podstránský, Jáchym - Radlička, Tomáš
Si3Nx fázová destička.
[Si3Nx phase plates.]
Internal code: APL-2021-05 ; 2021
Technical parameters: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu. Rozměr (Okénko v křemíkovém čipu) membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Tloušťka membrány je optimalizovaná tak, aby v posouvala fázi procházejícího svazku o pi/2. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm a ve středu clonky je malý otvor o rozměrech v jednotkách µm, který byl vytvořen pomoci FIB/SEM, tak aby odpovídal velikosti nultého řádu difrakce v zadní objektivové rovině.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326001

0542944 - ÚFM 2022 RIV GB eng J - Journal Article
Tatarková, M. - Tatarko, P. - Kovalčíková, A. - Dlouhý, Ivo - Dusza, J. - Šajgalík, P.
Influence of hexagonal boron nitride nanosheets on phase transformation, microstructure evolution and mechanical properties of Si3N4 ceramics.
Journal of the European Ceramic Society. Roč. 41, č. 10 (2021), s. 5115-5126. ISSN 0955-2219. E-ISSN 1873-619X
Grant - others:AV ČR(CZ) SAV-18-12; AV ČR(CZ) SAV-21-04
Program: Bilaterální spolupráce; Bilaterální spolupráce
Institutional support: RVO:68081723
Keywords : fracture-toughness * fabrication * composites * nanocomposites * nanotubes * behavior * Silicon nitride * Boron nitride nanosheets * Microstructure * Toughening * Mechanical properties
OECD category: Ceramics
Impact factor: 6.364, year: 2021
Method of publishing: Limited access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221921000972?via%3Dihub
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0320318