Search results
- 1.0575337 - ÚPT 2024 RIV NL eng J - Journal Article
Nohl, J. F. - Farr, N. T. H. - Sun, Y. - Hughes, G. M. - Stehling, N. - Zhang, J. - Longman, F. - Ives, G. - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Kumar, V. - Mihaylova, L. - Holland, C. - Cussen, S. A. - Rodenburg, C.
Insights into surface chemistry down to nanoscale: An accessible colour hyperspectral imaging approach for scanning electron microscopy.
Materials Today Advances. Roč. 19, August (2023), č. článku 100413. ISSN 2590-0498. E-ISSN 2590-0498
Grant - others:AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : chemical imaging * secondary electron hyperspectral imaging * scanning electron microscopy * secondary electrons * machine learning
OECD category: Coating and films
Impact factor: 10, year: 2022
Method of publishing: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590049823000735
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0345124 - 2.0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
[Extender for NiCOl column with deflectors.]
Internal code: APL-2021-13 ; 2021
Technical parameters: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326003 - 3.0536667 - ÚPT 2021 RIV CZ cze O - Others
Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Seďa, B. - Vašina, R.
Variabilní objektivová čočka.
[Variable objective lens.]
2020
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning electron microscope * variable objective lens * secondary * secondary electrons * resolution
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314403 - 4.0536587 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Seďa, B. - Vašina, R. - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
Nástavec pro objektivovou čočku.
[Objective lens extender.]
Internal code: APL-2020-09 ; 2020
Technical parameters: Extender je prstenec s upínacím mechanizmem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu. Přínos extenderu pro zlepšení vlastností skenovacího elektronového mikroskopu se mění podle operačních podmínek.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Martin Oral, Ph.D., oral@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning electron microscope * variable objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314350 - 5.0523897 - ÚJF 2021 RIV US eng J - Journal Article
Friedland, W. - Kundrát, Pavel - Becker, J. - Eidemuller, M.
Biophysical simulation tool PARTRAC: Modelling proton beams at therapy-relevant energies.
Radiation Protection Dosimetry. Roč. 186, 2-3 (2019), s. 172-175. ISSN 0144-8420. E-ISSN 1742-3406
Institutional support: RVO:61389005
Keywords : Deoxyribonucleic acid * traks * secondary electrons
OECD category: Radiology, nuclear medicine and medical imaging
Impact factor: 0.773, year: 2019
Method of publishing: Limited access
https://doi.org/10.1093/rpd/ncz197
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0308178 - 6.0509318 - ÚFP 2020 RIV NL eng J - Journal Article
Rymzhanov, R.A. - Medvedev, Nikita - Volkov, A.E.
Effects of model approximations for electron, hole, and photon transport in swift heavy ion tracks.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 388, December (2016), s. 41-52. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LG15013
Institutional support: RVO:61389021
Keywords : mean free paths * secondary electrons * optical-properties * alkali-halides * excitation * solids * metals * ionization * simulation * scattering * Swift heavy ion * Electronic stopping * trekis * Monte Carlo * Electronic kinetics * Photon transport
OECD category: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Impact factor: 1.109, year: 2016
Method of publishing: Limited access
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0168583X16304724?via%3Dihub
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0300065 - 7.0494374 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Conference Paper (international conference)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Abrams, K. - Dapor, M. - Krátký, Stanislav - Mika, Filip
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : secondary electrons * polymers * hyperspectral imaging
OECD category: Coating and films
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0288492 - 8.0482727 - ÚPT 2018 KR eng A - Abstract
Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Tsukiori, D. - Arai, R. - Takano, M. - Okuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons.
The 3rd East-Asia Microscopy Conference. Abstract Proceeding. Seoul: Korean Society of Microscopy, 2017.
[East-Asia Microscopy Conference /3./. 07.11.2017-10.11.2017, Busan]
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : supersensitive surface * very slow secondary electrons
OECD category: Materials engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0278110 - 9.0482158 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstract
Mika, Filip - Konvalina, Ivo
Application of the Bandpass Filter for Secondary Electrons in SEM.
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 72.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : bandpass filter * secondary electrons * SEM
OECD category: Coating and films
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0277553 - 10.0421170 - ÚPT 2014 RIV CZ eng J - Journal Article
Vyroubal, P. - Maxa, J. - Neděla, Vilém - Jirák, Josef - Hladká, K.
Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope.
Advances in Military Technology. Roč. 8, č. 1 (2013), s. 59-69. ISSN 1802-2308
R&D Projects: GA ČR GAP102/10/1410
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : Aperture * Laval nozzle * circular orifice * pressure * detector * Mach number * flow * trajectory of secondary electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0227591