Search results

  1. 1.
    0579480 - FZÚ 2024 RIV DE eng J - Journal Article
    Mishra, H. - Mašek, T. - Turek, Z. - Čada, Martin - Hubička, Zdeněk - Kudrna, P. - Tichý, M.
    Investigation of Tin removal for liquid metal Tokamak divertor by low pressure argon arc with hot tungsten cathode system.
    Journal of Fusion Energy. Roč. 42, č. 2 (2023), č. článku 36. ISSN 0164-0313. E-ISSN 1572-9591
    Institutional support: RVO:68378271
    Keywords : Tin * Argon arc * hot cathode * optical emission spectroscopy * Langmuir probe * scanning electron microscope
    OECD category: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impact factor: 1.1, year: 2022
    Method of publishing: Limited access
    https://doi.org/10.1007/s10894-023-00374-8
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0348329
     
     
  2. 2.
    0577788 - GLÚ 2024 RIV AU eng A - Abstract
    Bromstad, M. J. - Schuh, C. E. - Salzsauler, K. A. - Fawcett, S. - Glossop, L. N. - Hrstka, Tomáš
    Innovative applications of automated, SEM-based mineralogical analysis to acid rock drainage and metal leaching characterization.
    Proceedings of the 12th International Conference on Acid Rock Drainage. Brisbane: Sustainable Minerals Institute, 2022 - (Edraki, M.; Jones, D.; Jain, K.). s. 270-283. ISBN 978-1-74272-388-4.
    [International Conference on Acid Rock Drainage /12./. 18.09.2022-24.09.2022, online]
    Grant - others:AV ČR(CZ) StrategieAV21/30
    Program: StrategieAV
    Institutional support: RVO:67985831
    Keywords : Mineralogy * acid rock drainage * metal leaching * automated mineralogy * scanning electron microscope
    OECD category: Mineralogy
    https://www.inap.com.au/wp-content/uploads/ICARD-Proceedings-update-14-03-23.pdf
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0346927
     
     
  3. 3.
    0576186 - ÚTAM 2024 RIV CZ eng C - Conference Paper (international conference)
    Zeman, L. - Valach, J. - Zlámal, P. - Krčmářová, N. - Koudelková, Veronika - Zeman, J.
    Experimental evaluation of aluminothermic welds.
    Acta Polytechnica CTU Proceedings. Vol. 41. Prague: Czech Technical University in Prague, 2023 - (Nouzovský, L.; Drábek, M.; Richter, P.; Růžička, J.), s. 89-97. ISBN 978-80-01-07224-0. E-ISSN 2336-5382.
    [Young Transportation Engineers Conference. Prague (CZ), 24.11.2022-24.11.2022]
    Institutional support: RVO:68378297
    Keywords : aluminothermic reaction * train gauges * hardness * profilometry * scanning electron microscope
    OECD category: Materials engineering
    https://doi.org/10.14311/APP.2023.41.0089
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0345780
     
     
  4. 4.
    0568406 - ÚPT 2024 RIV JO eng J - Journal Article
    Abu-Najm, N. A. - Shatnawi, M. T. M. - Allaham, Mohammad M. - Mousa, M. S.
    Field Electron Emission Characteristics of Tungsten–Polyethylene Composite Material As a Source of Electron Emission.
    Jordan Journal of Physics. Roč. 15, č. 5 (2022), s. 537-545. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : Composite emitter * Field electron emitter * Field electron microscope * Polyethylene dielectric layer * Scanning electron microscope
    OECD category: Particles and field physics
    Impact factor: 0.7, year: 2022
    Method of publishing: Open access
    https://journals.yu.edu.jo/jjp/JJPIssues/Vol15No5pdf2022/11.html
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0339717
     
     
  5. 5.
    0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
    Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
    [Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
    Internal code: APL-2022-11 ; 2022
    Technical parameters: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    OECD category: Materials engineering
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337867
     
     
  6. 6.
    0566395 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Vašina, R. - Seďa, B. - Radlička, Tomáš - Řiháček, Tomáš
    Korektor sférické vady používající čočku s grafénovou fólií.
    [Graphene Foil Lens Corrector.]
    Internal code: APL-2022-16 ; 2022
    Technical parameters: Korektor sférické aberace a jeho integrace do mikroskopu Apreo. Jeho základní částí je elektrostatická čočka sestávající se z dvojice elektrod, na kterých lze libovolně měnit potenciál a dvou stínících elektrod. V otvoru jedné ze stínících elektrod je kruhová apertura, která je překryta tenkou grafénovou folií, která zaručuje diskontinuitu elektrostatického pole. Integrace do mikroskopu Apreo zahrnuje nový kondenzorový sytém a nový mechanizmus pro měření aberací založený na 2D pixelovém detektoru TimePix.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * corrector of sperical aberration * resolution * graphene foil * TimePix detector
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337735
     
     
  7. 7.
    0560442 - ÚVGZ 2023 RIV GB eng J - Journal Article
    Rewicz, A. - Kolanowska, Marta - Kras, M. - Szlachetko, D. L.
    Preliminary studies on variation in the micromorphology of the seed coat in Habenaria s.l. (Orchidaceae) and relatives.
    Botanical Journal of the Linnean Society. Roč. 200, č. 1 (2022), s. 104-115. ISSN 0024-4074. E-ISSN 1095-8339
    R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LM2018123
    Institutional support: RVO:86652079
    Keywords : 3D ultrastructure * ornamentation * scanning electron microscope (SEM) * taxonomy
    OECD category: Plant sciences, botany
    Impact factor: 2.4, year: 2022
    Method of publishing: Open access
    https://academic.oup.com/botlinnean/article/200/1/104/6581635?login=true
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0333370
     
     
  8. 8.
    0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
    Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
    [Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
    Internal code: APL-2021-06 ; 2021
    Technical parameters: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    OECD category: Materials engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326134
     
     
  9. 9.
    0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
    Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
    [Extender for NiCOl column with deflectors.]
    Internal code: APL-2021-13 ; 2021
    Technical parameters: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326003
     
     
  10. 10.
    0550696 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Vašina, R. - Seďa, B. - Radlička, Tomáš
    Korektor sférické vady používající čočku s grafénovou fólií.
    [Graphene Foil Len Corrector.]
    Internal code: APL-2021-14 ; 2021
    Technical parameters: Korektor je zamýšlen jako součást skenovacího elektronového mikroskopu, která bude korigovat jeho sférickou vadu. Je to elektrostatická čočka sestávající se z dvojice elektrod, na kterých lze libovolně měnit potenciál dvou stínících elektrod. V otvoru jedné ze stínících elektrod je kruhová apertura, která je překryta tenkou grafénovou folií (řádově 1 - 3 atomové vrstvy grafénu), která zaručuje diskontinuitu elektrostatického pole a zároveň minimálně ovlivňuje elektrony při jejich průchodu folií. Systém je vybaven mechanismem vypékání grafénové folie.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * corrector of spherical aberration * resolution * graphene foil
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326000
     
     

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.