Search results
- 1.0432079 - FZÚ 2015 CZ eng D - Thesis
Hývl, Matěj
Study of silicon nanostructures by microscopic methods.
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. - Praha: ČVUT, 2014. 72 s.
R&D Projects: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
Grant - others:AVČR(CZ) M100101216
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0236555