Search results | The Czech Academy of Sciences

Records found: 2

Your query: Author Sysno/Doc.kind = "^cav_un_auth 0253140 zl^"

To the basket
RIV
Bookmark
1.
0336649 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Sirný, Mojmír - Müllerová, Ilona
Vysokonapěťový zdroj pro vypékání vzorku v ultra-vakuu.
[High voltage power supply for the heating of the specimen in the ultra-high-vacuum.]
Internal code: 5511-4 ; 2009
Technical parameters: Určen pro vyhřívání vzorku proudem emitovaných elektronů, kladný potenciál 0 až 2 kV pro vzorek s proudem od 0 do 100 mA, zdroj 0 až 40 V / 0 až 10 A pro vlásenku katody jako zdroje elektronů, termočlánek pro měření teploty vzorku na vysokém potenciálu.
Economic parameters: Funkční vzor je určen pro bezkontaktní zahřívání preparátů proudem emitovaných elektronů v aparaturách ke studiu povrchů pevných látek, lze použít univerzálně v daném typu aparatur.
R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : specimen heating * electron bombardment
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180838
To the basket
RIV
Bookmark
2.
0336638 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Klein, Pavel
Polovodičový detektor pomalých elektronů prošlých vzorkem.
[Semiconductor detector of slow electrons transmitted through the specimen.]
Internal code: 5511-1 ; 2009
Technical parameters: Detektor velmi pomalých elektronů prošlých vzorkem se záběrem celé vyzařovací charakteristiky +-90 deg od normály povrchu, rozměr detektoru 5x5 mm, PIN struktura, 100% sběrová účinnost, zesílení až 3000x i při energii elektronů pod 1 eV.
Economic parameters: Funkční vzor je možné zavést do každého rastrovacího mikroskopu se vzorkem na vysokém potenciálu a realizovat tak režim STEM s velmi nízkou energií.
R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : very low energy STEM * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180830