Search results

  1. 1.
    0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detekce sekundárních elektronů v REM.
    [Detection of secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.