0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920