Search results
- 1.0050973 - ÚPT 2007 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
Additional Hydration Methods for Observation of Wet Samples in ESEM.
[Doplňkové hydratační metody pro pozorování vlhkých vzorku v ESEM.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 38.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
Keywords : ESEM * wet samples * agar
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140977 - 2.0050970 - ÚPT 2007 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Wandrol, Petr - Autrata, Rudolf
New BSE Detector for Low Voltage SEM.
[Nový detektor zpětně odražených elektronů pro nízkonapěťový SEM.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 45.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
R&D Projects: GA AV ČR KJB200650501
Keywords : backscattered electrons * detector * low voltage SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140976 - 3.0050969 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Linhart, Jan - Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
Napěťový kontrast v ESEM.
[Voltage contrast in ESEM.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 36.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : voltage contrast * environmental scanning electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140975 - 4.0050964 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Novák, Libor - Müllerová, Ilona
Vliv Everhart-Thornleyho detektoru na zobrazovaný signál.
[Imaging properties of Everhart-Thornley detector.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 24.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
R&D Projects: GA ČR GA102/04/2144
Keywords : SEM * detection * Everhart-Thornley
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140971 - 5.0050961 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM.
[Dopant contrast imaged with SE in SEM.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 37.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : dopant contrast * SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140970 - 6.0050957 - ÚPT 2007 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Horák, Petr - Schauer, Petr
Effect of Electron Beam on Poly[Methyl(Phenyl)Silylene].
[Účinek elektronového svazku na poly[fenyl(methyl)silylen].]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 33.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
R&D Projects: GA AV ČR IAA100100622
Keywords : Poly[Methyl(Phenyl)Silylene] * cathodoluminescence * degradation * metastability
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140967