Search results
- 1.0304061 - URE-Y 20020130 CZ cze I - Internal Report
Vaniš, Jan - Šroubek, Filip - Pangrác, Jiří - Walachová, Jarmila
Balistická elektronová emisní spektroskopie - srovnání pro kladná a záporná napětí.
[Ballistic electron emission spectroscopy-comparison for normal and opposite voltages.]
[Praha]: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2002. 1 s. Třetí seminář o metodách blízkého pole. s. 25
R&D Projects: GA AV ČR KSK1010104 Projekt 04/01:4045
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : spectroscopy * field emission electron microscopy * semiconductor qauntum wells
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0114205 - 2.0303669 - URE-Y 20000069 CZ cze I - Internal Report
Vaniš, Jan - Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
Charakterizace Bi2Te3 pomocí AFM.
[Characterisation Bi2Te3 with AFM.]
B.m.: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2000. 1 s. 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. s. 23
R&D Projects: GA ČR GA102/97/0427
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0113857