Search results
- 1.0181500 - UFCH-W 20020238 RIV CZ cze M - Monography Chapter
Lörinčík, Jan - Bastl, Zdeněk - Šroubek, Zdeněk
Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).
[Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).]
80-200-0594-3. In: Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 147-201. Metody analýzy povrchů.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z4040901
Keywords : mass spectrometry * SIMS
Subject RIV: CF - Physical ; Theoretical Chemistry
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0078062