Search results
- 1.0468459 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Research Report
Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Rozbořil, Jakub
SMV-2016-20: Výpočty detekčních systémů rastrovacích elektronových mikroskopů.
[SMV-2016-20: Simulation of detection systems of scanning electron microscopes.]
Brno: FEI Czech Republic, s.r.o., 2016. 10 s.
Source of funding: N - Non-public resources
Keywords : electron optics * electron microscopy * contrast optimization
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0266308