Search results

  1. 1.
    0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
    Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
    [Extender for NiCOl column with deflectors.]
    Internal code: APL-2021-13 ; 2021
    Technical parameters: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326003
     
     
  2. 2.
    0536587 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Seďa, B. - Vašina, R. - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
    Nástavec pro objektivovou čočku.
    [Objective lens extender.]
    Internal code: APL-2020-09 ; 2020
    Technical parameters: Extender je prstenec s upínacím mechanizmem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu. Přínos extenderu pro zlepšení vlastností skenovacího elektronového mikroskopu se mění podle operačních podmínek.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Martin Oral, Ph.D., oral@isibrno.cz
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * variable objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314350
     
     
  3. 3.
    0536585 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Radlička, Tomáš - Řiháček, Tomáš - Oral, Martin - Seďa, B. - Vašina, R.
    Annulární clona pro SEM.
    [Annular aperture for SEM.]
    Internal code: APL-2020-08 ; 2020
    Technical parameters: Pro výrobu byl použitý standardní aperturní strip, který je tvořený nosnou křemíkovou vrstvou pokovenou 200 nm vrstvou Molybdenu. Anulární apertura byla vyrobena pomoci technologie iontového fokusovaného svazku.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : scanning electron microscope * diffraction * resolution * annular aperture
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314349
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.