Search results
- 1.0587600 - ÚPT 2025 RIV cze P - Patent Document
Neděla, Vilém
Zařízení pro obrazovou a chemickou spektroskopickou analýzu.
[An equipment for an image and chemical spectroscopic analysis.]
2024. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 22.05.2024. Patent Number: 310063. Territorial Protection: národní patent v členském státě EU .
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : SEM * ESEM * A-ESEM * mass spectrometer
OECD category: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.gov.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/310/310063.pdf
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0354731 - 2.0372211 - ÚPT 2012 RIV eng P - Patent Document
Neděla, Vilém - Jirák, Josef
Ionisation Detector for Environmental Scanning Microscope.
2011. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 23.11.2011. Patent Number: EP2195822
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ionisation detector * secondary electrons * electrostatic separator
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
https://data.epo.org/publication-server/pdf-document?pn=2195822&ki=B1&cc=EP
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0205582 - 3.0322626 - ÚPT 2011 RIV CZ cze P - Patent Document
Neděla, Vilém - Jirák, Josef
Ionizační detektor environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu.
[The ionisation detector of the environmental scanning electron microscope.]
Praha: Úřad průmyslového vlastnictví, 2008. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent registration: 04.10.2007. Date of the patent acceptance: 05.11.2008. Patent Number: 299864
R&D Projects: GA AV ČR KJB200650602
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ISEDS * secondary electrons * VP SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/299/299864.pdf
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0170824