Search results

  1. 1.
    0422788 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
    Very low energy STEM for biology.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    R&D Projects: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠk ED0017/01/01
    Institutional support: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Keywords : tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229236
     
     
  2. 2.
    0422681 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Müllerová, Ilona - Řiháček, Tomáš
    Electron vortex beam.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 17.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    R&D Projects: GA TA ČR TE01020118
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : electron beam * vortex beam
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229235
     
     
  3. 3.
    0422380 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Novotný, Peter - Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 63.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    R&D Projects: GA TA ČR TE01020118
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : STEM * thin foils * electromagnetic fields * simulation of electron trajectories
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0228525
     
     
  4. 4.
    0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
    Image contrasts in the scanning electron microscopy.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * image contrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006671
     
     
  5. 5.
    0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
    Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SLEEM * cathode lens mode
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669
     
     
  6. 6.
    0353109 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    Analysis of a combined electrostatic and magnetic objective lens.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 41. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : photoemission electron microscopy * low energy electron microscopy * EOD software
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006219
     
     
  7. 7.
    0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
    Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * SLEEM * UFG
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216
     
     
  8. 8.
    0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detekce sekundárních elektronů v REM.
    [Detection of secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920
     
     
  9. 9.
    0205357 - UPT-D 20000136 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Müllerová, Ilona - Hutař, Otakar - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
    Informační obsah výtisku obrazu z REM.
    [The Informational Contents of the Print of the REM Image.]
    Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice: Laboratoř elektronové mikroskopie PAU AV ČR, 2000, s. -.
    [Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice (CZ), 14.11.2000]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA1065901
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0100971
     
     
  10. 10.
    0050964 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Novák, Libor - Müllerová, Ilona
    Vliv Everhart-Thornleyho detektoru na zobrazovaný signál.
    [Imaging properties of Everhart-Thornley detector.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 24.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    R&D Projects: GA ČR GA102/04/2144
    Keywords : SEM * detection * Everhart-Thornley
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140971