Search results
- 1.0422788 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM for biology.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
R&D Projects: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Keywords : tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229236 - 2.0422681 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Müllerová, Ilona - Řiháček, Tomáš
Electron vortex beam.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 17.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
R&D Projects: GA TA ČR TE01020118
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : electron beam * vortex beam
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229235 - 3.0422380 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Novotný, Peter - Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 63.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
R&D Projects: GA TA ČR TE01020118
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : STEM * thin foils * electromagnetic fields * simulation of electron trajectories
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0228525 - 4.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * image contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 5.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SLEEM * cathode lens mode
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669 - 6.0353109 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Analysis of a combined electrostatic and magnetic objective lens.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 41. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : photoemission electron microscopy * low energy electron microscopy * EOD software
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006219 - 7.0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * SLEEM * UFG
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216 - 8.0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920 - 9.0205357 - UPT-D 20000136 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Müllerová, Ilona - Hutař, Otakar - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
Informační obsah výtisku obrazu z REM.
[The Informational Contents of the Print of the REM Image.]
Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice: Laboratoř elektronové mikroskopie PAU AV ČR, 2000, s. -.
[Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice (CZ), 14.11.2000]
R&D Projects: GA AV ČR IAA1065901
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0100971 - 10.0050964 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Novák, Libor - Müllerová, Ilona
Vliv Everhart-Thornleyho detektoru na zobrazovaný signál.
[Imaging properties of Everhart-Thornley detector.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 24.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
R&D Projects: GA ČR GA102/04/2144
Keywords : SEM * detection * Everhart-Thornley
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140971