Search results

  1. 1.
    0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
    Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
    [Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
    Internal code: APL-2022-11 ; 2022
    Technical parameters: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    OECD category: Materials engineering
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337867
     
     
  2. 2.
    0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
    Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
    [Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
    Internal code: APL-2021-06 ; 2021
    Technical parameters: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    OECD category: Materials engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326134
     
     
  3. 3.
    0517195 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
    Miniaturizovaný analyzátor sekundárních elektronů.
    [Miniaturized secondary electron analyser.]
    Internal code: APL-2019-19 ; 2019
    Technical parameters: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce miniaturizovaného spektrometru sekundárních elektronů umístitelného dovnitř komory rastrovacího elektronového mikroskopu přímo na manipulátor vzorku. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů tyto prvky: vzorek, elektrodu vymezující úhlový rozsah diagnostikovaných elektronů, dvojici elektrod toroidního tvaru, napěťový a detekční systém. Energie primárního svazku: 2 keV, energie zkoumaných elektronů 0–50 eV, výška 28 mm, průměr 35 mm
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika Ph.D., mika@isibrno.cz
    R&D Projects: GA TA ČR TG03010046
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
    OECD category: Coating and films
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0302484
     
     
  4. 4.
    0096520 - ÚPT 2008 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Mika, Filip
    Úhlově citlivý detektor pomalých zpětně odražených elektronů.
    [Angular sensitive detector of low energy electrons.]
    Internal code: 5532 ; 2006
    Technical parameters: Polohově nastavitelný detekční systém na bázi krystalu YAG.
    Economic parameters: Nelze přesně stanovit.
    R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : low energy electrons * scanning electron microscope
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0155869