Search results

  1. 1.
    0422380 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Novotný, Peter - Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 63.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    R&D Projects: GA TA ČR TE01020118
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : STEM * thin foils * electromagnetic fields * simulation of electron trajectories
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0228525
     
     
  2. 2.
    0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detekce sekundárních elektronů v REM.
    [Detection of secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920
     
     
  3. 3.
    0308434 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hanzlíková, Renáta - Mika, Filip - Matějková, Jiřina
    Prezentace činnosti Laboratoří elektronové mikroskopie.
    [The Laboratories for Electron Microscopy and Image Analysis presentation.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 29. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : microscopy * SEM * EDX
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160918
     
     
  4. 4.
    0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
    Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
    [Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : dopants * PEEM * SEM * silicon
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160916
     
     
  5. 5.
    0205668 - UPT-D 20030050 RIV CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip
    Scanning electron microscopy with low energy electrons.
    Proceedings of the 9th Conference and Competition Student EEICT 2003 - Papers written by postgraduate students. Brno: Brno University of Technology, 2003 - (Řezáč, D.; Zacios, D.), s. 485 - 489. ISBN 80-214-2379-X.
    [STUDENT EEICT 2003. Brno (CZ), 24.04.2003]
    R&D Projects: GA AV ČR KJB2065301
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
    Keywords : scanning electron microscopy * critical energy * nonconductors
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0101281
     
     
  6. 6.
    0109114 - UPT-D 20040119 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip
    Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
    [Quantitative Study of Dopant Distribution in a Semiconductor Using Secondary Electron Emission.]
    PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. Brno: Ústav přístrojové techniky, 2004 - (Müllerová, I.), s. 39 - 42. ISBN 80-239-2268-8.
    [PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika. Brno (CZ), 30.01.2004]
    R&D Projects: GA AV ČR KJB2065301
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
    Keywords : Secondary Electron Emission * Dopant Distribution * Semiconductors
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0016226
     
     
  7. 7.
    0050991 - ÚPT 2007 cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip
    Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
    [Quantitative 2D dopant profiling in semiconductor by the secondary electron emission.]
    PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 33-36. ISBN 80-239-7957-4.
    [PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : semiconductor structure * doping density * contrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140993
     
     
  8. 8.
    0050961 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM.
    [Dopant contrast imaged with SE in SEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 37.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : dopant contrast * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140970
     
     
  9. 9.
    0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
    [Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
    Keywords : dopant * semiconductor * se kontrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111562
     
     
  10. 10.
    0022564 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip
    Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
    [Quantitative 2D dopant profiling in semiconductor by the secondary electron emission.]
    PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 37-42. ISBN 80-239-4561-0.
    [PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
    R&D Projects: GA AV ČR(CZ) KJB2065301
    Keywords : dopant * semiconductor * se contrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111292