Search results
- 1.0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
[Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
Internal code: APL-2020-11 ; 2020
Technical parameters: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314400 - 2.0536443 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Radlička, Tomáš - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška
Elektrostatický tubus pro 2D detekci v UHV systému (mimo-osový pixelový detektor).
[Electrostatic column for 2D detection in UHV system (off-axis pixelated detector).]
Internal code: APL-2020-06 ; 2020
Technical parameters: Funkční vzorek projekčního elektrostatického tubusu tvoří tři elektrostatické multipólové korektory, jedna rotačně symetrická elektrostatická čočka, stínítko, řídící elektronika s programovatelnými napěťovými zdroji a kabeláž. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností projekčního elektrostatického tubusu v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : electron microscopy * electrostatic column * multipole corrector * electrostatic lens * 2D detection
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314219 - 3.0499074 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[Spectrometer of energies of very slow electrons.]
Internal code: APL-2018-13 ; 2018
Technical parameters: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce spektrometru energií velmi pomalých elektronů na principu doby průletu. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů preparát, první elektrodu, transportní tubus, druhou elektrodu, driftovou trubici s elektromagnetickým stíněním a detektor. Preparátem je velmi tenká vrstva libovolného technického materiálu o tloušťce v jednotkách nanometrů, kterou je možné prosvítit velmi pomalými elektrony o energii 100 eV a méně. Dominantní volbou preparátů jsou dvourozměrné krystaly o tloušťce nanejvýš několika atomových vrstev, např. grafén.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: RNDr. Luděk Frank, DrSc., ludek@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0291357 - 4.0379940 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor krystalografického kontrastu s vysokým rozlišením pro zobrazování velmi pomalými elektrony.
[Detector of high resolution crystallographic contrast for the imaging with very low energy electrons.]
Internal code: BSE13 ; 2012
Technical parameters: Detektor krystalografického kontrastu pro zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony, který má vysokou sběrovou účinnost pro široký úhlový rozsah signálních elektronů.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy * crystallographic contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210786 - 5.0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
[Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
Internal code: PP-13 ; 2012
Technical parameters: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210785 - 6.0336646 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Frank, Luděk - Klein, Pavel
Ultra-vysoko-vakuový scintilační detektor zpětně odražených elektronů.
[The ultra-high-vacuum scintillation detector of reflected electrons.]
Internal code: 5511-3 ; 2009
Technical parameters: Destička z monokrystalu YAG aktivovaného cérem o vnějším průměru 10 mm s centrálním otvorem 0,3 mm, plochý křemenný světlovod k vakuové stěně, optický spoj bez tmelu (vypékatelnost do 160C), vysouvatelný o 60+-5 mm, centrovatelný +-2 mm ve třech směrech
Economic parameters: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací, je experimentálně odzkoušen delším zkušebním provozem, je vhodný pro UHV mikroskopy s velmi nízkou energií dopadu elektronů.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SLEEM * detector of slow electrons * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180835 - 7.0047353 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Methodology of slow electron microscopy with cathode lens.
[Metodika mikroskopie pomalými elektrony s katodovou čočkou.]
Internal code: SLEEM ; 2005
Technical parameters: Metodika rastrovací elektronové mikroskopie elektrony o libovolně nízké energii s vysokým rozlišením obrazu, realizovaná pomocí tzv. katodové čočky.
Economic parameters: Podstatné rozšíření zobrazovacích možností rastrovacího elektronového mikroskopu, získání nových typů obrazových kontrastů.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : low energy electron microscopy * nano-diagnostics
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0138285 - 8.0047352 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototype, f. module
El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Electron detectors.
[Elektronové detektory.]
Internal code: EDUS ; 2003
Technical parameters: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
Economic parameters: Patent číslo US 6,570,163: platnost patentu pro USA
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
Keywords : electron detectors * low energy electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0138284 - 9.0047351 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototype, f. module
El Gomati, M. M. - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Electron detectors.
[Elektronové detektory.]
Internal code: EDEUR ; 2006
Technical parameters: Nový typ detektoru pro kompaktní rastrovací mikroskop s velmi pomalými elektrony
Economic parameters: Patent číslo EP1012867: platnost patentu pro DE, FR, GB, NL
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : electron detectors * low energy electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0138283 - 10.0047349 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
[Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope.]
Internal code: DETEFF ; 2005
Technical parameters: Metoda objektivního hodnocení a postup měření kvantové detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu ve statickém režimu stabilního signálu a procedura vyhodnocení časové odezvy detektoru na signálový skok.
Economic parameters: Metoda umožňuje objektivní srovnání různých konfigurací detektorů a rovněž vyhodnocování efektu konstrukčních změn a inovací.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : electron detectors * scanning electron microscope * detective quantum efficiency * secondary electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0138282