Search results

  1. 1.
    0422788 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
    Very low energy STEM for biology.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    R&D Projects: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠk ED0017/01/01
    Institutional support: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Keywords : tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229236
     
     
  2. 2.
    0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : mapping dopants * semiconductors
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006670
     
     
  3. 3.
    0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
    Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SLEEM * cathode lens mode
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669
     
     
  4. 4.
    0353110 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Vacuum level by very low energy electron reflectivity vacuum level by very low energy electron reflectivity.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 60. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    R&D Projects: GA MŠk OE08012
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : local density of states * SEM * reflectivity of very low energy electrons
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006220
     
     
  5. 5.
    0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
    Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * SLEEM * UFG
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216
     
     
  6. 6.
    0308441 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 37. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160925
     
     
  7. 7.
    0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
    Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
    [Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : dopants * PEEM * SEM * silicon
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160916
     
     
  8. 8.
    0205357 - UPT-D 20000136 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Müllerová, Ilona - Hutař, Otakar - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
    Informační obsah výtisku obrazu z REM.
    [The Informational Contents of the Print of the REM Image.]
    Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice: Laboratoř elektronové mikroskopie PAU AV ČR, 2000, s. -.
    [Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice (CZ), 14.11.2000]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA1065901
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0100971
     
     
  9. 9.
    0050961 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM.
    [Dopant contrast imaged with SE in SEM.]
    Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 37.
    [Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : dopant contrast * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140970
     
     
  10. 10.
    0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
    [Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
    Keywords : dopant * semiconductor * se kontrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111562