Search results
- 1.0422788 - ÚPT 2014 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM for biology.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
R&D Projects: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Keywords : tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229236 - 2.0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : mapping dopants * semiconductors
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006670 - 3.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SLEEM * cathode lens mode
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669 - 4.0353110 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Vacuum level by very low energy electron reflectivity vacuum level by very low energy electron reflectivity.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 60. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
R&D Projects: GA MŠMT OE08012
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : local density of states * SEM * reflectivity of very low energy electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006220 - 5.0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * SLEEM * UFG
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216 - 6.0308441 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 37. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160925 - 7.0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
[Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : dopants * PEEM * SEM * silicon
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160916 - 8.0205357 - UPT-D 20000136 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Müllerová, Ilona - Hutař, Otakar - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
Informační obsah výtisku obrazu z REM.
[The Informational Contents of the Print of the REM Image.]
Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice: Laboratoř elektronové mikroskopie PAU AV ČR, 2000, s. -.
[Digitalizace a elektronová mikroskopie. České Budějovice (CZ), 14.11.2000]
R&D Projects: GA AV ČR IAA1065901
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0100971 - 9.0050961 - ÚPT 2007 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM.
[Dopant contrast imaged with SE in SEM.]
Mikroskopie 2006. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2006, s. 37.
[Mikroskopie 2006. Nové Město na Moravě (CZ), 16.02.2006-17.02.2006]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : dopant contrast * SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140970 - 10.0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
[Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
[Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
Keywords : dopant * semiconductor * se kontrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111562