Search results

  1. 1.
    0500966 - ÚPT 2019 RIV cze P - Patent Document
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Hrabina, Jan
    Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti.
    [Interferometric assembly for differential measurement of distance.]
    2014. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 26.02.2014. Patent Number: 304317
    R&D Projects: GA TA ČR TA02010711
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : metrology * interferometry * laser
    OECD category: Nano-materials (production and properties)
    https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/304/304317.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0293001
     
     
  2. 2.
    0438921 - ÚPT 2015 cze P - Patent Document
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Hrabina, Jan
    Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti.
    [Interferometric assembly for differential measurement of distance.]
    2014. Owner: Ústav přístrojové techniky Akademie věd ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 15.01.2014. Patent Number: 304317
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : interferometry * differential measurement * metrology
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/304/304317.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0242273
     
     
  3. 3.
    0423601 - ÚPT 2014 RIV cze P - Patent Document
    Řeřucha, Šimon - Číp, Ondřej - Šarbort, Martin - Lazar, Josef
    Způsob detekce interfernční fáze dvou interferujících laserových paprsků a zařízení pro provádění tohoto způsobu.
    [Method and apparatus for detection of interference phase of two interfering laser beams.]
    2013. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 02.10.2013. Patent Number: 304138
    R&D Projects: GA MPO FR-TI2/705
    Keywords : laser * interferometry * nanometrology * optical metrology * displacement * inteference phase detection
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/304/304138.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229716
     
     
  4. 4.
    0423599 - ÚPT 2014 RIV cze P - Patent Document
    Číp, Ondřej - Lazar, Josef - Čížek, Martin - Mikel, Břetislav
    Způsob zjišťování rozměrových a tvarových odchylek mechanických součástí a zařízení pro provádění tohoto způsobu.
    [Method for detecting dimensional and shape deviations of mechanical components and equipment for implementing this method.]
    2013. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 09.05.2013. Patent Number: 303909
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : shape deviations * mechanical parts * surface * high temperature * laser * rangefinder * scanning
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/303/303909.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0229721
     
     
  5. 5.
    0387845 - ÚPT 2013 RIV cze P - Patent Document
    Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
    Způsob kalibrace délky předmětu a zařízení pro kalibraci délky předmětu.
    [Method for callibration of the object length and equipment for performing the method.]
    2011. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i. Date of the patent acceptance: 14.12.2011. Patent Number: 302948
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : callibration of the object length
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/302/302948.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0219903
     
     
  6. 6.
    0372210 - ÚPT 2012 RIV cze P - Patent Document
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej
    Interferometrický systém s kompenzací změn indexu lomu prostředí.
    [Interferometric system with compensation of the refractive index fluctuation of the ambiance.]
    2011. Owner: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 19.05.2011. Patent Number: 302520
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : interferometric system * measuring of lengths * refractive index
    Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
    http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/302/302520.pdf
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0205581
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.