Search results

  1. 1.
    0449865 - FZÚ 2016 RIV CZ cze L3 - Certified Methodologys
    Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk
    Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu bóru v Si deskách.
    [Methodology of not destructive determination of boron concentration profile in Si wafers.]
    Internal code: SVMB_SOL_01 ; 2012
    Technical parameters: Komercionalizace metodiky se nepředpokládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro difúzi bóru včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách.
    Economic parameters: Komercionalizace metodiky se nepředpokládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro difúzi bóru včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách křemíkových solárních článků do vysokoteplotních pecí SVFur společně s metodikami pro přípravu substrátů a vytváření těchto vrstev se předpokládá 12% nárůst prodeje v segmentu difuzních reaktorů pro dopování bórem společností SVCS Process Innovation s.r.o.
    Certifying body: SVCS Process Innovation s.r.o., Optátova 37, Brno 637 00, Česká republika. Certificate issue date: 10.12.2012
    R&D Projects: GA TA ČR TA01020972
    Institutional support: RVO:68378271
    Keywords : silicon substrate * boron concentration profile * IR reflection * UV ellipsometry
    Subject RIV: BL - Plasma and Gas Discharge Physics
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0251279
     
     
  2. 2.
    0449834 - FZÚ 2016 RIV CZ cze L3 - Certified Methodologys
    Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk
    Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu fosforu v Si deskách.
    [Methodology of not destructive determination of phosphorus concentration profile in Si wafers.]
    Internal code: SVMP_SOL_01 ; 2012
    Technical parameters: V tomto dílčím úkolu bylo cílem dopracovat bezkontaktní a rychlou metodu určování difúzních profilů, jakožto možnou charakterizační metodu pro sledování difúzních profilů a prostorové homogenity.
    Economic parameters: Komercionalizace metodiky se nepředpkládá, bude sloužit jako podůrný produkt prodeje. V případě implementace ověřené technolopie pro fosforovou difúzi včetně všech jeho modulárních komponent na strukturách křemíkových solárních článků do vysokoteplotních pecí SVFur společně s metodikami pro přípravu substrátů a vytváření těchto vrstev se předpokládá 12% nárůst prodeje v segmentu difuzních reaktorů pro dopování fosforem společností SVCS Process Innovation s.r.o.
    Certifying body: SVCS Process Innovation s.r.o., Optátova 37, Brno 637 00, Česká republika. Certificate issue date: 10.12.2012
    R&D Projects: GA TA ČR TA01020972
    Institutional support: RVO:68378271
    Keywords : silicon substrate * phosphorus concentration profile * IR reflection * IR ellipsometry
    Subject RIV: BL - Plasma and Gas Discharge Physics
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0251276
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.