Search results

  1. 1.
    0303430 - URE-Y 990003 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Starý, V. - Olšovec, P. - Jurek, Karel - Peřina, Vratislav - Kohout, Jindřich
    O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev GaxIn1-xAsyP1-y na podložce InP.
    [Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of GaxIn1-xAsyP1-y/InP thin films.]
    Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1996. In: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků. - (Lesňák, M.; Luňáček, J.; Pištora, J.), s. 515-517
    [Konference českých a slovenských fyziků /12./. Ostrava (CZ), 02.09.1996-06.09.1996]
    Keywords : epitaxial layers * thin films * III-V semiconductors * electron probe analysis
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0113648