Search results

  1. 1.
    0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
    Image contrasts in the scanning electron microscopy.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * image contrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006671

               
     
     
  2. 2.
    0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : mapping dopants * semiconductors
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006670

               
     
     
  3. 3.
    0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
    Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
    Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
    [Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SLEEM * cathode lens mode
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669

               
     
     
  4. 4.
    0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
    Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * SLEEM * UFG
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216

               
     
     
  5. 5.
    0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detekce sekundárních elektronů v REM.
    [Detection of secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : detection systems * secondary electrons * SEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160920

               
     
     
  6. 6.
    0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
    Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
    [Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : dopants * PEEM * SEM * silicon
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160916

               
     
     
  7. 7.
    0050986 - ÚPT 2007 cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš
    Studium vlastností dopovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.
    [High-pass Energy filtered PEEM Imaging of Dopants in Silicon.]
    PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 19-22. ISBN 80-239-7957-4.
    [PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
    R&D Projects: GA ČR GA202/04/0281
    Keywords : silicon * photoemission electron microscopy * contrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140988

               
     
     
  8. 8.
    0022559 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Hovorka, Miloš
    Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
    [Wave-optical contrasts in the ultra-high vacuum scanning electron microscope.]
    PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 19-20. ISBN 80-239-4561-0.
    [PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : wave-optical contrasts * quantum size contrast * ultra-high vacuum scanning low-energy electron microscope
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111287