0047173 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Frank, LuděkNenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu.
[Non-charging high vacuum mode of the scanning electron microscope.]
Internal code: CRITEN ; 2002
Technical parameters: Metoda automatizovaného stanovení kritické energie elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s katodovou čočkou, při níž se preparát nenabíjí, a procedura snímání lokálním nábojem nepoškozených mikrosnímků nevodivých preparátů ve vysokém vakuu.
Economic parameters: Podstatné zjednodušení preparace nevodivých materiálů a živé hmoty pro mikroskopické pozorování, rozšíření rejstříku pracovních režimů mikroskopů.
R&D Projects: GA AV ČR(CZ) IBS2065017
Keywords : critical energy microscopy * electron microscopy of nonconductors * scanning electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0138161
