Search results
- 1.0050995 - ÚPT 2007 cze K - Conference Paper (Czech conference)
Pokorná, Zuzana
Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
[Local density of states imaging using the reflection of very low energy electrons.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 49-50. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
R&D Projects: GA ČR GA202/04/0281
Keywords : local density of states * image contrast * electron reflectivity * very low energy electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140997 - 2.0050986 - ÚPT 2007 cze K - Conference Paper (Czech conference)
Hovorka, Miloš
Studium vlastností dopovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.
[High-pass Energy filtered PEEM Imaging of Dopants in Silicon.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 19-22. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
R&D Projects: GA ČR GA202/04/0281
Keywords : silicon * photoemission electron microscopy * contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140988 - 3.0022568 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Pokorná, Zuzana
Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
[Local density of states mapping using the reflection of very slow electrons.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 55-56. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA202/04/0281
Keywords : local density of states * very slow electrons * dopant distribution
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111296