Search results
- 1.0050988 - ÚPT 2007 cze K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo
Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
[The quantification of the detection efficiency of the secondary electron detector in SEM.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 25-28. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Keywords : collection efficiency * ET detector * secondary electrons
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0140990 - 2.0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
[Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
[Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
Keywords : dopant * semiconductor * se kontrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111562