Search results
- 1.0308565 - ÚPT 2008 RIV CZ cze J - Journal Article
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech.
[Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 57-59. ISSN 0447-6441
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ET detector * secondary electrons * collection efficiency * electrostatic and magnetic field
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0161002 - 2.0308203 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Journal Article
Hovorka, Miloš - Frank, Luděk - Valdaitsev, D. - Nepijko, S. - Elmers, H. - Schönhense, G.
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon.
[Studium vlastností dotovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.]
Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 42-47. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : dopants * energy-filtered imaging * PEEM * silicon
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.409, year: 2008
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160757 - 3.0308202 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Journal Article
Mika, Filip - Frank, Luděk
Two-dimensional dopant profiling with low energy SEM.
[Tvorba dvourozměrných profilů dopantu s níkoenergiovým SEM.]
Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 76-83. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : dopant contrast * low energy SEM * semiconductors
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.409, year: 2008
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160756 - 4.0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Journal Article
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * LEEM * scanning LEEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.855, year: 2007
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0150316 - 5.0082250 - ÚPT 2007 RIV JP eng J - Journal Article
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies.
[Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů při nízkých energiích.]
Materials Transactions. Roč. 48, č. 5 (2007), s. 940-943. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : angular distribution of backscattered electrons * scanning electron microscopy * low energy electron microscopy * cathode lens principle * multichannel detection of electrons * crystallinic contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.018, year: 2007
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0145866 - 6.0082249 - ÚPT 2007 RIV JP eng J - Journal Article
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Ikeno, S.
Cathode Lens Mode of the SEM in Materials Science Applications.
[Použití režimu katodové čočky v REM v materiálových vědách.]
Materials Transactions. Roč. 48, č. 5 (2007), s. 944-948. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : electron microscopy of materials * scanning electron microscopy * low energy electron microscopy * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.018, year: 2007
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0145865 - 7.0044292 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Journal Article
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo
Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
[Mnohakanálová detekce úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), CD:1438-1439. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : BSE detection * multi-channel detector * cathode lens * angular distribution
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 2.108, year: 2006
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0137114 - 8.0043768 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Journal Article
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
The Trajectories of Secondary Electrons in the Scanning Electron Microscope.
[Trajektorie sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
Scanning. Roč. 28, č. 5 (2006), s. 245-256. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ET detector * secondary electrons * collection efficiency
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 0.462, year: 2006
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0136679