Search results

  1. 1.
    0566394 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Sháněl, O. - Schneider, M. - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
    Si3Nx fázová destička pokrytá vodivou vrstvou.
    [Si3Nx phase plates covered by conductive layer.]
    Internal code: APL-2022-15 ; 2022
    Technical parameters: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu, která je pokrytá tenkou vodivou molybdenovou vrstvou. Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Z membrány je vytvořena fázová destička tím, že je v jejím středu udělaný otvor optimalizovaných rozměrů pomoci technologie fokusovaného iontového svazku. Tloušťka molybdenové vrstvy je optimalizovaná pro výsledný fázový posuv pi/2. Součástí funkčního vzorku je modifikovaný držák apertur, který umožňuje její umístění do zadní ohniskové roviny transmisního elektronového mikroskopu.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337734
     
     
  2. 2.
    0550697 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Sháněl, O. - Schneider, M. - Materna Mikmeková, Eliška - Řiháček, Tomáš - Podstránský, Jáchym - Radlička, Tomáš
    Si3Nx fázová destička.
    [Si3Nx phase plates.]
    Internal code: APL-2021-05 ; 2021
    Technical parameters: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu. Rozměr (Okénko v křemíkovém čipu) membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Tloušťka membrány je optimalizovaná tak, aby v posouvala fázi procházejícího svazku o pi/2. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm a ve středu clonky je malý otvor o rozměrech v jednotkách µm, který byl vytvořen pomoci FIB/SEM, tak aby odpovídal velikosti nultého řádu difrakce v zadní objektivové rovině.
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326001
     
     
  3. 3.
    0536583 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Krátký, Stanislav - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Materna Mikmeková, Eliška - Radlička, Tomáš - Řiháček, Tomáš - Sháněl, O. - Schneider, M. - Mareček, D.
    Fázová destička pro použití v transmisní elektronové mikroskopii.
    [Phase plate for transmission electron microscopy.]
    Internal code: APL-2020-07 ; 2020
    Technical parameters: Křemíkový čip (tloušťka 200 µm) nesoucí tenkou nitridovou membránu (tloušťka ⁓70 nm). Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm. Celý vzorek je pokoven tenkou vrstvou molybdenu (⁓3 nm).
    Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Stanislav Krátký, kratky@isibrno.cz
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institutional support: RVO:68081731
    Keywords : transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers * e-beam lithography
    OECD category: Electrical and electronic engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314347
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.