Search results
- 1.0370928 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Flodrová, Eva - Neděla, Vilém - Sedláčková, M. - Hampl, A.
Study of Human Embryonic Stem Cells with Scanning Electron Microscope.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 40. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
R&D Projects: GA ČR GAP102/10/1410
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * Embryonic Stem Cells
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006802 - 2.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
R&D Projects: GA AV ČR IAA100650902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * image contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 3.0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : mapping dopants * semiconductors
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006670 - 4.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SLEEM * cathode lens mode
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006669