Search results
- 1.0536443 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Radlička, Tomáš - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška
Elektrostatický tubus pro 2D detekci v UHV systému (mimo-osový pixelový detektor).
[Electrostatic column for 2D detection in UHV system (off-axis pixelated detector).]
Internal code: APL-2020-06 ; 2020
Technical parameters: Funkční vzorek projekčního elektrostatického tubusu tvoří tři elektrostatické multipólové korektory, jedna rotačně symetrická elektrostatická čočka, stínítko, řídící elektronika s programovatelnými napěťovými zdroji a kabeláž. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností projekčního elektrostatického tubusu v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : electron microscopy * electrostatic column * multipole corrector * electrostatic lens * 2D detection
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0314219 - 2.0511776 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Knápek, Alexandr - Klein, Pavel - Delong, A.
Aparatura pro opakovatelnou přípravu nanometrických sond.
[Set-up for automated preparation of nanometric probes.]
Internal code: APL-2019-18 ; 2019
Technical parameters: Materiál 0.35 mm silný polykrystal/monokrystal wolframový drát
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Alexandr Knápek, Ph.D., knapek@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR TG03010046
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : electrochemical etching * nanometric probe * anodic dissolution
OECD category: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0302021 - 3.0499074 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[Spectrometer of energies of very slow electrons.]
Internal code: APL-2018-13 ; 2018
Technical parameters: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce spektrometru energií velmi pomalých elektronů na principu doby průletu. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů preparát, první elektrodu, transportní tubus, druhou elektrodu, driftovou trubici s elektromagnetickým stíněním a detektor. Preparátem je velmi tenká vrstva libovolného technického materiálu o tloušťce v jednotkách nanometrů, kterou je možné prosvítit velmi pomalými elektrony o energii 100 eV a méně. Dominantní volbou preparátů jsou dvourozměrné krystaly o tloušťce nanejvýš několika atomových vrstev, např. grafén.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: RNDr. Luděk Frank, DrSc., ludek@isibrno.cz
R&D Projects: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0291357 - 4.0379940 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor krystalografického kontrastu s vysokým rozlišením pro zobrazování velmi pomalými elektrony.
[Detector of high resolution crystallographic contrast for the imaging with very low energy electrons.]
Internal code: BSE13 ; 2012
Technical parameters: Detektor krystalografického kontrastu pro zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony, který má vysokou sběrovou účinnost pro široký úhlový rozsah signálních elektronů.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy * crystallographic contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210786 - 5.0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
[Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
Internal code: PP-13 ; 2012
Technical parameters: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210785 - 6.0356100 - ÚPT 2011 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Neděla, Vilém - Schauer, Petr - Klein, Pavel
Nový světlovod pro mikroskopy Hitachi.
[New light guide for Hitachi microscopes.]
Internal code: 201013 ; 2010
Technical parameters: Světlovod byl realizován na základě náročných Monte Carlo simulací prostupu světla materiálem tak, aby jeho parametry byly i přes neobvyklý lomený tvar co nejlepší a jako součást nového BSE YAG detektoru byl schopen pracovat s maximální účinností.
Economic parameters: Funkční vzorek využívaný příjemcem s možností dalšího šíření. Je určený pro mikroskopy s elektronovým a iontovým svazkem firmy Hitachi.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : scanning electron microscopes * BSE * light guide * YAG detector
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0194714 - 7.0341428 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Klein, Pavel - Neděla, Vilém
Nová výsuvná mechanika pro BSE-YAG/YAP detektor.
[New retractable console for BSE-YAG/YAP detector.]
Internal code: HS-3 ; 2009
Technical parameters: Zcela nový, tří tyčový, výsuvný systém mechaniky pro BSE detektor s monokrystalickým scintilátorem YAG nebo YAP používaný v rastrovací elektronové mikroskopii. Systém je výrazně lehčí a stabilnější než jeho předchozí varianta.
Economic parameters: Systém je navržen tak, aby ho bylo možné upevnit na elektronové mikroskopy různých výrobců. Optimalizací v oblasti konstrukce, výrobního procesu i použitých materiálů byla zvýšena ekonomická, ale i užitná hodnota.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : BSE-YAG/YAP detector * electron microscope * console
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184425 - 8.0341427 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Klein, Pavel - Neděla, Vilém
BSE-YAG detektor pro mikroskop JEOL.
[BSE-YAG detector for a JEOL microscope.]
Internal code: HS-2 ; 2007
Technical parameters: Mechanika a scintilačně fotonásobičová jednotka BSE-YAG detektoru byla upravena pro použití ve specifickém elektronovém mikroskopu.
Economic parameters: Systém je navržen tak, aby byl jednoduše modifikovatelný a bylo možné ho upevnit na konkrétní elektronový mikroskop dle přání zákazníka. Nově navržen byl i světlovod se scintilačním monokrystalem YAG.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : BSE-YAG detector * electron microscope * light guide
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184424 - 9.0336646 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Frank, Luděk - Klein, Pavel
Ultra-vysoko-vakuový scintilační detektor zpětně odražených elektronů.
[The ultra-high-vacuum scintillation detector of reflected electrons.]
Internal code: 5511-3 ; 2009
Technical parameters: Destička z monokrystalu YAG aktivovaného cérem o vnějším průměru 10 mm s centrálním otvorem 0,3 mm, plochý křemenný světlovod k vakuové stěně, optický spoj bez tmelu (vypékatelnost do 160C), vysouvatelný o 60+-5 mm, centrovatelný +-2 mm ve třech směrech
Economic parameters: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací, je experimentálně odzkoušen delším zkušebním provozem, je vhodný pro UHV mikroskopy s velmi nízkou energií dopadu elektronů.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SLEEM * detector of slow electrons * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180835 - 10.0336643 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Klein, Pavel
Manipulátor vzorku pro ultra-vysoko-vakuový rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.
[Specimen manipulator for the ultra-high-vacuum scanning electron microscope with slow electrons.]
Internal code: 5511-2 ; 2009
Technical parameters: Vysoce stabilní manipulátor pro práci v tlaku 10E-8 Pa, plynule regulovatelné pohyby +- 5 mm v rovině v obou směrech a +- 10,5 mm ve svislém směru, přesný náklon +-5 deg ve dvou navzájem kolmých směrech, rotace +- 8 deg
Economic parameters: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací a je experimentálně odzkoušen při dlouhodobém zkušebním provozu. Je vhodný pro UHV aparatury ke studiu čistých povrchů pevných látek.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : UHV specimen stage * surface analysis
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180832