Search results

0341955 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Journal Article
Mates, Tomáš - Bronsveld, P.C.P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
Structure of mixed-phase Si films studied by C-AFM and X-TEM.
[Struktura smíšené fáze tenkých křemíkových vrstev studovaná pomocí vodivostního AFM a průřezového TEM.]
Journal of Physics: Conference Series. Roč. 61, - (2007), s. 790-794. ISSN 1742-6588. E-ISSN 1742-6596
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Keywords : microcrystalline silicon * conductive AFM * cross-sectional TEM
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184793

0341951 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Journal Article
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Bronsveld, P.C.P. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
C-AFM and X-TEM: studies of mixed-phase silicon thin films.
[C-AFM a X-TEM: zkoumání heterostrukturních tenkých vrstev křemíku.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 10, č. 1 (2008), s. 30-32. ISSN 1439-4243
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Keywords : conductive atomic force microscopy * cross-sectional transmission electron microscopy * silicon thin films
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184790

0341949 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Journal Article
Čermák, Jan - Rezek, Bohuslav - Cimrová, Věra - Výprachtický, Drahomír - Ledinský, Martin - Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films.
[Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem.]
Physica Status Solidi. Roč. 1, č. 5 (2007), s. 193-195. ISSN 1862-6254. E-ISSN 1862-6270
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Keywords : atomic force microscopy (AFM) * composition and phase identification * photoconduction and photovoltaic effects * fullerens and related materials
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 0.000, year: 2007
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184788

0341939 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Journal Article
Holovský, Jakub - Poruba, Aleš - Purkrt, Adam - Remeš, Zdeněk - Vaněček, Milan
Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells.
[Srovnání fotovodivostních spekter vrstev amorfního křemíku a solárních článků na nich založených měřených pomocí metod FTPS a CPM.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 354, 19-25 (2008), s. 2167-2170. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Keywords : silicon * solar cells * band structure * defects * optical properties * absorption * FTIR measurements * photoconductivity * medium-range order
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.449, year: 2008
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184780

0341937 - FZÚ 2010 RIV CH eng J - Journal Article
Kočka, Jan - Mates, Tomáš - Ledinský, Martin - Stuchlíková, The-Ha - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín
A simple tool for quality evaluation of the microcrystalline silicon prepared at high growth rate.
[Jednoduchý nástroj pro určení kvality mikrokrystalického křemíku připraveného s vysokou rychlostí růstu.]
Thin Solid Films. Roč. 516, č. 15 (2008), s. 4966-4969. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Keywords : microcrystalline silicon * deposition process * high growth rate * quality evaluation
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.884, year: 2008
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0184778