Search results

0304060 - URE-Y 20020115 CZ cze I - Internal Report
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Jelínek, Miroslav - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
STM topografie velmi tenkých vrstev Bi₂Te₃ připravených laserovou ablací.
[STM topography of very thin Bi₂Te₃ layers prepared by laser ablation.]
[Praha]: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2002. 1 s. Třetí seminář o metodách blízkého pole. s. 16
R&D Projects: GA ČR GA202/02/0098
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : thin films * nanotechnology * materials properties
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0114204