Search results

  1. 1.
    0022854 - ÚPT 2006 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Wandrol, Petr - Autrata, Rudolf
    Computation of the low voltage BSE detector.
    [Výpočty nízkonapěťového BSE detektoru.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 46.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Keywords : low voltage BSE detector * computation * scintillation detector
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111564
     
     
  2. 2.
    0022853 - ÚPT 2006 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Wandrol, Petr - Roubalíková, L. - Autrata, Rudolf
    Observation of tooth enamel and dentim in SEM.
    [Pozorování zubní skloviny a dentinu v SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 45.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Keywords : tooth enamel * dentin * AdHeSe * TotalEtch
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111563
     
     
  3. 3.
    0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
    [Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
    Keywords : dopant * semiconductor * se kontrast
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111562
     
     
  4. 4.
    0022851 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Horák, Petr - Schauer, Petr
    Detekce slabé katodoluminiscence.
    [Detection of weak cathodoluminescence.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 36.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/04/2144
    Keywords : synchronous mode * weak cathodoluminescence
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111561
     
     
  5. 5.
    0022850 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Horáček, Miroslav
    Detekční kvantová účinnost elektrony bombardovaného CCD.
    [Detective quantum efficiency of electron bombarded CCD.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 35.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA202/03/1575
    Keywords : electron bombarded CCD * detective quantum efficiency
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111560
     
     
  6. 6.
    0022849 - ÚPT 2006 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Černoch, P. - Jirák, Josef - Autrata, Rudolf
    Dependence of contrast on pressure using segmental ionization detector in environmental SEM.
    [Závislost kontrastu na tlaku segmentového ionizačního detektoru v environmentální REM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 32.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : ionization detector * ESEM
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111559
     
     
  7. 7.
    0022848 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Vlček, Ivan
    Konstrukce nízkoenergiového REM.
    [Design of low energy SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 23.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA202/03/1575
    Keywords : low energy SEM * Wien filter * CCD detector
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111558
     
     
  8. 8.
    0022847 - ÚPT 2006 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Neděla, Vilém - Autrata, Rudolf
    Improvement of the method for observation of water containing specimen in ESEM.
    [Zlepšení metody pro pozorování vodu obsahujících vzorků v EREM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 14.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Keywords : ESEM * hydration * nature state
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111557
     
     
  9. 9.
    0022846 - ÚPT 2006 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    Sběrová účinnost ET detektoru sekundárních elektronů v REM.
    [The collection efficiency of the ET detector of the secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 13.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : collection efficiency * ET detector * secondary electrons
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0111556
     
     


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.