Search results
- 1.0541788 - ÚJF 2022 RIV CH eng J - Journal Article
Hlushko, K. - Macková, Anna - Zálešák, J. - Burghammer, M. - Davydok, A. - Krywka, C. - Daniel, R. - Keckes, J. - Todt, J.
Ion irradiation-induced localized stress relaxation in W thin film revealed by cross-sectional X-ray nanodiffraction.
Thin Solid Films. Roč. 722, MAR (2021), č. článku 138571. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Research Infrastructure: CzechNanoLab - 90110
Institutional support: RVO:61389005
Keywords : Tungsten thin film * Ion irradiation * residual stress
OECD category: Nano-materials (production and properties)
Impact factor: 2.358, year: 2021
Method of publishing: Limited access
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.138571
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0319321 - 2.0334118 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Journal Article
Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Paszkowicz, W. - Krzywinski, J. - Jurek, M. - Zymierska, D. - Wawro, A. - Petroutchik, A. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Chalupský, Jaromír - Burian, T. - Vyšín, Luděk - Toleikis, S. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U. - London, R. - Hau-Riege, S. - Riekel, C. - Davies, R. - Burghammer, M. - Dynowska, E. - Szuszkiewicz, W. - Caliebe, W. - Nietubyc, R.
Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy.
[Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie.]
Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
R&D Projects: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100523
Keywords : XUV FEL * radiation damage * ablation * structure modifications * x-ray diffraction
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
Impact factor: 1.149, year: 2009
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0178937 - 3.0101434 - UMCH-V 20043154 RIV DE eng J - Journal Article
Davies, R. J. - Zafeiropoulos, N. E. - Schneider, K. - Roth, S. V. - Burghammer, M. - Riekel, C. - Kotek, Jiří - Stamm, M.
The use of synchrotron X-ray scattering coupled with in situ mechanical testing for studying deformation and structural change in isotactic polypropylene.
[Použití rozptylu synchrotronového záření spojeného s in situ mechanickým testováním pro studium deformace a strukturálních změn v izotaktickém polypropylenu.]
Colloid and Polymer Science. Roč. 282, č. 8 (2004), s. 854-866. ISSN 0303-402X. E-ISSN 1435-1536
R&D Projects: GA AV ČR KSK4050111
Institutional research plan: CEZ:AV0Z4050913
Keywords : polypropylene * .beta.iPP * synchrotron
Subject RIV: CD - Macromolecular Chemistry
Impact factor: 1.110, year: 2004
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0008864