Search results
- 1.0575427 - ÚPT 2024 RIV GB eng A - Abstract
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Daniel, Benjamin - Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
Study of Graphene by Scanning Low Energy Electron Microscopy and Time-of-Flight Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 29, S1 (2023), s. 1861-1862. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2023. 23.07.2023-27.07.2023, Minneapolis]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Grant - others:AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * time-of-flight spectroscopy * graphene
OECD category: Electrical and electronic engineering
https://academic.oup.com/mam/article/29/Supplement_1/1861/7229038
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0345212 - 2.0551078 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Research Report
Materna Mikmeková, Eliška
SMV-2021-67: Testování materiálů, které jsou klíčové pro boj proti pandemii (COVID-19) pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie.
[SMV-2021-67: Testing of the materials crucial for the fight with COVID 19 pandemic using low energy electron microscopy.]
Brno: NAFIGATE Corporation, a.s., 2021. 6 s.
Source of funding: N - Non-public resources
Keywords : Nanofibers * COVID 19 * scanning low energy electron microscopy * WCA * EDX
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326430 - 3.0544223 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Journal Article
Ma, Haili - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Yin, X. - Sun, F. - Piňos, Jakub - Vaškovicová, Naděžda - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Chen, D.
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. ISSN 2574-0970
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic
OECD category: Electrical and electronic engineering
Impact factor: 6.140, year: 2021
Method of publishing: Limited access
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0321265 - 4.0450822 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Conference Paper (international conference)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk - Knápek, Alexandr - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Walker, Christopher - Müllerová, Ilona
Scanning low-and very low energy electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 218-220. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : very low energy * scanning low energy electron microscopy * crystallography, graphene * tissue sections
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0252034 - 5.0436805 - ÚPT 2015 RIV US eng J - Journal Article
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, S3 (2014), s. 858-859. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
R&D Projects: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy * contrast * cathode lens
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.872, year: 2014
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0240464 - 6.0426271 - ÚPT 2014 RIV CZ cze V - Research Report
Mikmeková, Šárka
SMV-2012-15: Studium mikrostruktury žáropevných ocelí pomocí mikroskopie pomalými elektrony.
[SMV-2012-15: Examination of microstructure of heat-proof steels by means of the low energy electron microscopy.]
Brno: Výzkumný a zkušební ústav Plzeň, s.r.o, 2012. 14 s.
Source of funding: N - Non-public resources
Keywords : scanning low energy electron microscopy * CB2 steel * material contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0232036 - 7.0387384 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Conference Paper (international conference)
Mikmeková, Šárka - Mrňa, Libor - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Examination of metals and alloys with slow and very slow electrons.
METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012. ISBN 978-80-87294-29-1.
[METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy * microstructure characterization * chemical composition analysis * residual stress
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0216605 - 8.0386107 - ÚPT 2013 RIV SK eng C - Conference Paper (international conference)
Sergeev, E. - Knápek, A. - Mikmeková, Šárka - Grmela, L. - Klampár, M.
Material characterization of the epoxy-coated cold-field-emission cathodes.
Physics of materials 2012. Proceedings of the scientific conference. Košice: Technical University of Košice, 2012 - (Tóthová, J.; Lisý, V.), s. 109-112. ISBN 978-80-553-1175-3.
[Physics of Materials 2012. Košice (SK), 17.10.2012-19.10.2012]
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : composite cold field-emission cathode * scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * dielectric relaxation spectroscopy (DRS)
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0215510 - 9.0379940 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor krystalografického kontrastu s vysokým rozlišením pro zobrazování velmi pomalými elektrony.
[Detector of high resolution crystallographic contrast for the imaging with very low energy electrons.]
Internal code: BSE13 ; 2012
Technical parameters: Detektor krystalografického kontrastu pro zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony, který má vysokou sběrovou účinnost pro široký úhlový rozsah signálních elektronů.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scanning low energy electron microscopy * crystallographic contrast
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210786 - 10.0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
[Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
Internal code: PP-13 ; 2012
Technical parameters: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
Economic parameters: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
R&D Projects: GA MPO FR-TI3/323
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0210785