Search results
- 1.0537576 - FZÚ 2021 RIV CZ eng C - Conference Paper (international conference)
Chmelíčková, H. - Hiklová, H. - Václavek, L. - Tomáštík, J. - Čtvrtlík, Radim
Characterization of titanium laser welds.
Acta Polytechnica CTU Proceedings. Vol. 27. Prague: Czech Technical University in Prague, 2020, s. 145-148. ISBN 978-80-01-06735-2. ISSN 2336-5382.
[International Conference on Local Mechanical Properties /14./. Prague (CZ), 06.11.2019-08.11.2019]
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : elasticity * laser welding * nanohardness * surface profile * titanium
OECD category: Materials engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0315398 - 2.0449451 - FZÚ 2016 RIV CZ cze J - Journal Article
Chmelíčková, H. - Hiklová, Helena - Ošťádal, R.
Měření vlastností povrchu křemíku ovlivněného laserem.
[Measurement of the laser melted silicon surface properties.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 4 (2015), s. 126-128. ISSN 0447-6441
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : laser * silicon * grooving * demineralised water * surface profile
Subject RIV: JK - Corrosion ; Surface Treatment of Materials
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0250995 - 3.0189080 - UMCH-V 20033033 RIV SK cze C - Conference Paper (international conference)
Slepička, P. - Rybka, V. - Špírková, Milena - Zehentner, J. - Švorčíková, J. - Švorčík, V.
Charakterizace ultra-tenkých kovových vrstev.
[Characterization of ultra-thin metal layers.]
Zborník prednášok. Dubnica nad Váhom: ZTSMTEC, a.s., Dubnica nad Váhom, 2003, s. 141-145. ISBN 80-968337-1-5.
[Vrstvy a povlaky. Trenčín (SK), 22.05.2003-23.05.2003]
R&D Projects: GA AV ČR KSK4050111
Keywords : gold layer * electrical resistance * surface profile
Subject RIV: CD - Macromolecular Chemistry
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0084933 - 4.0048847 - ÚPT 2007 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Liška, M. - Zemánek, Pavel
Measurement of surface details with nanometer resolution using several optically held probes.
[Měření povrchových detailů s nanometrovým rozlišením pomocí několika opticky vázaných sond.]
Proceedings of SPIE (Vol. 6180) Photonics, Devices, and Systems III. Bellingham: SPIE, 2006, 61802A:1-6. ISBN 0-8194-6236-5. ISSN 0277-786X.
[Photonics, Devices, and Systems III. Praha (CZ), 08.06.2005-11.06.2005]
R&D Projects: GA AV ČR IAA1065203
Grant - others:EC 6FP(XE) ATOM3D No. 508952
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : scanning probe microscopy * photonic force microscopy * optical tweezers * surface profile measurements
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0139376