Search results
- 1.0572184 - ÚJF 2024 RIV CH eng J - Journal Article
Torrisi, L. - Cutroneo, Mariapompea - Torrisi, A.
SiC Measurements of Electron Energy by fs Laser Irradiation of Thin Foils.
Micromachines. Roč. 14, č. 4 (2023), č. článku 811. E-ISSN 2072-666X
R&D Projects: GA ČR GA23-06702S
Institutional support: RVO:61389005
Keywords : electron acceleration * electron detection * graphene oxide * laser-generated plasma * Schottky diode * silicon carbide * TNSA
OECD category: Nuclear physics
Impact factor: 3.4, year: 2022
Method of publishing: Open access
https://doi.org/10.3390/mi14040811
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0342956File Download Size Commentary Version Access 0572184.pdf 2 3.7 MB CC licence Publisher’s postprint open-access - 2.0551118 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Krzyžánek, Vladislav - Láznička, Tomáš - Kolouch, A. - Mrázová, T. - Horodyský, P.
Detektor STEM.
[STEM detector.]
Internal code: APL-2021-15 ; 2021
Technical parameters: Retraktabilní scintilační detektor STEM je navržen pro instalaci ke skenovacím elektronovým mikroskopům (SEM) za účelem detekce signálních elektronů prošlých, resp. rozptýlených průchodem skrz tenký vzorek. Detektor obsahuje tělo detektoru s výškově nastavitelnou přírubou o průměru 158 mm s velmi jemným posuvem o maximálním rozsahu 180 mm. Detektor obsahuje dvě na sobě nezávislé jednotky, které jsou spolu pevně spojené: jedna pro detekci rozptýlených elektronů do větších úhlů (ADF, annular dark-field) a druhá pro detekci zejména nerozptýlených elektronů (BF, bright-field). Rozsah sběrných úhlů je pro ADF cca 13-280 mrad, pro BF cca do 13 mrad (přesné hodnoty závisí na přesné poloze detektoru a pracovní vzdálenosti). Každá jednotka je složena ze světlovodu, na jehož jednom konci je velmi rychlý scintilátor a na druhém konci je fotonásobič s řídící elektronikou a zesilovači signálu. Součástí STEM detektoru je Faradayova klec pro přesné měření proudu svazku dopadajícího na vzorek, který umožňuje následné kvantitativní zobrazování pomocí obou STEM segmentů ADF a BF. Funkčnost funkčního vzorku byla ověřena v SEM Magellan 400/L (Thermo Fisher Scientific) v kombinaci s externí skenovací jednotkou DISS5 (Point elektronic) na Ústavu přístrojové techniky AV ČR v Brně.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Vladislav Krzyžánek, Ph.D., vlk@isibrno.cz.
R&D Projects: GA MPO(CZ) FV30271
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : STEM * scanning electron microscopy * electron detection * quantitative imaging
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0326560 - 3.0542399 - ÚFM 2022 RIV NL eng J - Journal Article
Marshall, A. L. - Holzer, Jakub - Stejskal, P. - Stephens, C. J. - Vystavěl, T. - Whiting, M. J.
The EBSD spatial resolution of a Timepix-based detector in a tilt-free geometry.
Ultramicroscopy. Roč. 226, JUL (2021), č. článku 113294. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LQ1601
Institutional support: RVO:68081723
Keywords : EBSD * Direct electron detection * Timepix * Resolution * Normal incidence * Cross-Correlation
OECD category: Materials engineering
Impact factor: 2.994, year: 2021
Method of publishing: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000826?via%3Dihub
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0320611 - 4.0465030 - ÚPT 2017 RIV NL eng J - Journal Article
Bok, Jan - Lalinský, Ondřej - Hanuš, M. - Onderišinová, Z. - Kelar, J. - Kučera, M.
GAGG:ce single crystalline films: New perspective scintillators for electron detection in SEM.
Ultramicroscopy. Roč. 163, APR (2016), s. 1-5. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA16-05631S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : scintillator * GAGG:Ce * multicomponent garnet * epitaxial film * electron detection * SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 2.843, year: 2016
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0263732 - 5.0367106 - ÚPT 2012 IT eng C - Conference Paper (international conference)
Bok, Jan - Schauer, Petr
Afterglow of YAG:Ce single crystal scintillators for S(T)EM electron detectors.
Proceedings of the 10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: SISM, 2011, s. 61-62.
[Multinational Congress on Microscopy 2011 /10./ - MCM 2011. Urbino (IT), 04.09.2011-09.09.2011]
R&D Projects: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT ED0017/01/01
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : electron detection * scintillator * YAG:Ce * afterglow * time response
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0201885 - 6.0109030 - UPT-D 20040031 RIV BE eng C - Conference Paper (international conference)
Horáček, Miroslav
Modulation transfer function of electron-bombarded CCD.
[Modulační přenosová funkce elektrony bombardovaného CCD.]
EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress. Vol. 1. Liege: Belgian Society for Microscopy, 2004, s. 81-82.
[EMC 2004 /13./ European Microscopy Congress. Antwerp (BE), 22.08.2004-27.08.2004]
R&D Projects: GA ČR GA202/03/1575
Keywords : modulation transfer function * CCD * electron detection
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0016142 - 7.0092588 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Conference Paper (international conference)
Černoch, P. - Jirák, Josef
Optimization of Secondary Electron Detection by Segmental lonization Detector in Environmental SEM.
[Optimalizace detekce sekundárních elektronů segmentovým ionizačním detektorem v environmentálním REM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 79-80. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : secondary electron detection * segmental ionization detector * environmental SEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0152866