Number of the records: 1  

Aparatura pro detekci nečistot v naneseném rezistu

  1. 1.
    SYSNO0496767
    TitleAparatura pro detekci nečistot v naneseném rezistu
    TitleApparatus for detecting of particles in coated resist layer
    Author(s) Drozd, Michal (UPT-D)
    Knápek, Alexandr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Král, Stanislav (UPT-D) RID, SAI
    Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlumská, Jana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Pavelka, Jan (UPT-D) RID, SAI
    Kolařík, Vladimír (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Horáček, Miroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Meluzín, Petr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Issue data2018
    SubspeciesFunctional Specimen
    Int.CodeAPL-2018-05
    Technical parametersJedná se o aparaturu používající pro skenování digitální kameru. Rozměry: 45x35x50 cm, rychlost skenování 1cm2/2min., rozlišení částic > 10 um. Typ podložek: Si destička 4‘a 6‘.
    Economic parametersFunkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Alexandr Knápek, Ph.D., knapek@isibrno.cz
    Owner NameÚstav přístrojové techniky AV Ř, v. v. i.
    Internal identification code of the product assigned by its creator, Regulation no.,APL-2018-05
    Document TypePrototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor
    Grant TG03010046 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
    LO1212 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS), CZ - Czech Republic
    Institutional supportUPT-D - RVO:68081731
    Languagecze
    CountryCZ
    Keywords e–beam lithography * quality control * image processing
    Permanent Linkhttp://hdl.handle.net/11104/0289410
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.