Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku

Number of the records: 1

1.

SYSNO	0427287
Title	Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku
Author(s)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Ganzerová, Kristína (FZU-D)_RID Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Source Title	Sborník 8. české fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, o.p.s, 2013
Conference	Česká fotovoltaická konference /8./, Brno, 14.05.2013-15.05.2013
Document Type	Abstrakt
Grant	M100101216, CZ - Czech Republic
	M100101217, CZ - Czech Republic
	FR-TI2/736 GA MPO - Ministry of Industry and Trade (MPO)
	GA13-25747S GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
	GA13-12386S GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
	LM2011026 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS), CZ - Czech Republic
Institutional support	FZU-D - RVO:68378271
Language	cze
Country	CZ
Keywords	Raman * microcrystalline silicon, * atomic force microscopy
Permanent Link	http://hdl.handle.net/11104/0232878

Number of the records: 1