Number of the records: 1

Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate

SYSNO	0324621
Title	Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate
Title	Krystalografické vlastnosti tenkých vrstev polykrystalického křemíku s řízenou velikostí zrna na safírových podložkách
Author(s)	Ogane, A. (JP) Honda, Shinya (FZU-D) Uraoka, Y. (JP) Fuyuki, T. (JP) Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Source Title	Journal of Crystal Growth. Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793. - : Elsevier
Document Type	Článek v odborném periodiku
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Language	eng
Country	NL
Keywords	crystallites * defects * chemical vapor deposition processes * solar cells
Permanent Link	http://hdl.handle.net/11104/0172268

Number of the records: 1