Number of the records: 1  

SMV-2021-31: TELIGHT zaměřovací obrazec

  1. 1.
    SYSNO ASEP0549960
    Document TypeV - Research Report
    R&D Document TypeV - Research Report
    TitleSMV-2021-31: TELIGHT zaměřovací obrazec
    TitleSMV-2021-31: TELIGHT aiming pattern
    Author(s) Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Horáček, Miroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlumská, Jana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Kolařík, Vladimír (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Issue dataBrno: TELIGHT Brno, s.r.o., 2021
    Number of pages8 s.
    Publication formPrint - P
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordse-beam lithography ; optics ; reactive ion etching
    Subject RIVBH - Optics, Masers, Lasers
    OECD categoryOptics (including laser optics and quantum optics)
    Next sourceNon-public resources
    AnnotationOblast vývoje se týká realizace přesných reliéfních struktur pomocí elektronové litografie a reaktivního iontového leptání. Vývoj technologie tvorby přesného fázového filtru planparalelního typu pro optické aplikace modifikací křemenných podložek pomocí přesného suchého leptání.
    Description in EnglishThe field of development concerns the realization of precise relief structures using electron lithography and reactive ion etching. Development of technology for the creation of a precise phase filter of the plane-parallel type for optical applications by modification of quartz substrates by means of precise dry etching.
    WorkplaceInstitute of Scientific Instruments
    ContactMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Year of Publishing2022
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.