Number of the records: 1  

Mikroskopie materiálů 2016

  1. 1.
    SYSNO ASEP0467078
    Document TypeU - Organizing Conference, Workshop, Exhibition
    R&D Document TypeW - Uspořádání workshopu
    R&D Document TypeNení vybrán druh dokumentu
    TitleMikroskopie materiálů 2016
    TitleMicroscopy of materials 2016
    Author(s) Šlouf, Miroslav (UMCH-V) RID, ORCID
    Klementová, Mariana (UACH-T) RID, SAI, ORCID
    Palatinus, Lukáš (FZU-D) RID, ORCID
    Event typeW - Workshop
    Event date18.04.2016 - 22.04.2016
    VEvent locationPraha
    CountryCZ - Czech Republic
    Event typeCST
    Total number of participants35
    Number of foreign participants0
    Languagecze - Czech
    Keywordsscanning electron microscopy ; transmission electron microscopy ; course for young researchers
    Subject RIVCD - Macromolecular Chemistry
    Subject RIV - cooperationInstitute of Inorganic Chemistry - Inorganic Chemistry
    Institute of Physics - Solid Matter Physics ; Magnetism
    Institutional supportUMCH-V - RVO:61389013 ; UACH-T - RVO:61388980 ; FZU-D - RVO:68378271
    AnnotationKurz s přednáškami, demonstracemi a cvičeními pokrývá moderní metody studia anorganických materiálů a syntetických polymerů pomocí elektronové mikroskopie (SEM i TEM), včetně přípravy vzorků, zpracování a interpretace naměřených dat. Kurz je určen pro začátečníky a mírně pokročilé uživatele nejen z materiálových oborů.
    Description in EnglishElectron microscopy course with lectures, demonstrations and exercises covering the modern methods of study of inorganic materials and synthetic polymers by electron microscopy (SEM and TEM), including sample preparation, processing and data interpretation. The course is intended for beginners and slightly advanced users not only from materials science.
    WorkplaceInstitute of Macromolecular Chemistry
    ContactEva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358
    Year of Publishing2017
    Electronic addresshttp://crysa.fzu.cz/MMaterialu2016/
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.