Number of the records: 1
Využití AFM ke studiu chalkogenidových skel a filmů
- 1.
SYSNO ASEP 0424872 Document Type A - Abstract R&D Document Type The record was not marked in the RIV R&D Document Type Není vybrán druh dokumentu Title Využití AFM ke studiu chalkogenidových skel a filmů Title Utilization of the AFM for the study of the chalcogenide glasses and thin films Author(s) Knotek, P. (CZ)
Kincl, Miloslav (UMCH-V) RID
Tichý, Ladislav (UMCH-V) RIDNumber of authors 3 Source Title Letní škola SPM mikroskopie. - Lázně Bohdaneč : RMI, s.r.o. Lázně Bohdaneč, 2013 Number of pages 1 s. Action Letní škola SPM mikroskopie Event date 10.06.2013-11.06.2013 VEvent location Brno Country CZ - Czech Republic Event type EUR Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords atomic force microscopy ; material engineering ; chalcogenide glasses and thin films Subject RIV CA - Inorganic Chemistry Institutional support UMCH-V - RVO:61389013 Annotation Přednáška shrnovala možnosti různých modů AFM pro studium skel a tenkých filmů na bázi chalkogenidů pro zobrazení topografie, mechanických a elektrických vlastností. Description in English There were reviewed a possibilities of the different modes of AFM for the study of the glassy and thin film material for the study of the topography, mechanical and electrical behavior. Workplace Institute of Macromolecular Chemistry Contact Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Year of Publishing 2014
Number of the records: 1