Number of the records: 1
Charakterizace solárních multikrystalických článků metodou LBIC s různými vlnovými délkami
- 1.
SYSNO ASEP 0320843 Document Type C - Proceedings Paper (int. conf.) R&D Document Type Conference Paper Title Charakterizace solárních multikrystalických článků metodou LBIC s různými vlnovými délkami Title Characterization of multicrystalline solar cells with LBIC method in different wavelength Author(s) Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Jandová, K. (CZ)
Vaněk, J. (CZ)
Boušek, J. (CZ)Number of authors 4 Source Title Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, 2008 - ISBN 978-80-254-3528-1 Pages s. 119-121 Number of pages 3 s. Action Česká fotovoltaická konference /3./ Event date 03.11.2008-05.11.2008 VEvent location Brno Country CZ - Czech Republic Event type CST Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords LBIC ; multicrystalline silicon ; detecting defects Subject RIV BM - Solid Matter Physics ; Magnetism CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Annotation Pro určování defektů v solárních článcích byla použita metoda LBIC (Light Beam Induced Current). Nově zde bylo využito jako zdroj světla LED o různých vlnových délkách pro odhalení odlišných typů defektů. Výhodou použití více vlnových délek je možnost odhalování defektů v různé hloubce. Povrchové defekty lze pozorovat při krátkých vlnových délkách použitého zdroje světla (400nm a 470nm). Oblast přechodu je pak dobře pozorovatelná při vlnových délkách blízkých 525nm. Pro oblast defektů v základním materiálu je vhodné použití světla s vlnovou délkou 630nm nebo 890nm. Description in English For the determination of defects in the solar cells was used a method LBIC (Light Beam Induced Current). We use LED light source with various wavelengths to reveal the different types of defects. Using multiple wavelengths enables detecting defects in different depths. Surface defects can be observed in shorter wavelengths (400nm and 470nm). The junction region is well observed at wavelengths close to 525nm. Defects in the base material are visible using the light at a wavelength of 630nm or 890nm. Workplace Institute of Scientific Instruments Contact Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Year of Publishing 2009
Number of the records: 1