Number of the records: 1
Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku
- 1.Ledinský, Martin
Vliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku.
[Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films.]
Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2010 - (Remeš, Z.), s. 9-12. ISBN 978-80-254-8633-7.
[Zimní odborný a vzdělávací seminář 2010. Rokytnice nad Jizerou (CZ), 11.02.2010-12.02.2010]
http://hdl.handle.net/11104/0195237
Number of the records: 1