Number of the records: 1
Zařízení pro měření specifického povrchu rozměrných vzorků, způsob měření a jeho použití.
- 1.Topka, Pavel - Jirátová, Květa - Soukup, Karel - Goliáš, Jiří
Zařízení pro měření specifického povrchu rozměrných vzorků, způsob měření a jeho použití.
[Equipment for measuring the specific surface of large samples, measurement method and its use.]
2020. Owner: Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. Date of the patent acceptance: 19.11.2020. Patent Number: 308606
OECD category: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/308/308606.pdf
http://hdl.handle.net/11104/0312958
Number of the records: 1