Number of the records: 1
Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku
- 1.0427287 - FZÚ 2015 CZ cze A - Abstract
Ledinský, Martin - Ganzerová, Kristína - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Měření záchytu světla pomocí Ramanovy spektroskopie v tenkých vrstvách křemíku.
Sborník 8. české fotovoltaické konference. Rožnov pod Radhoštěm: Czech RE Agency, o.p.s, 2013.
[Česká fotovoltaická konference /8./. 14.05.2013-15.05.2013, Brno]
R&D Projects: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-25747S; GA ČR GA13-12386S; GA MŠMT(CZ) LM2011026
Grant - others:AVČR(CZ) M100101216; AVČR(CZ) M100101217
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : Raman * microcrystalline silicon, * atomic force microscopy
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0232878
Number of the records: 1