Number of the records: 1
Determination of Composition and Thickness of MnSi and MnGe Layers by EDS.
SYS 0541357 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103225635.8 014 $a 85085686368 $2 SCOPUS 014 $a 000534240700001 $2 WOS 017 $a 10.1007/s10921-020-00685-2 $2 DOI 100 $a 20210324d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a US 200 1-
$a Determination of Composition and Thickness of MnSi and MnGe Layers by EDS. 215 $a 11 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0253935 $1 011 $a 0195-9298 $e 1573-4862 $1 200 1 $a Journal of Nondestructive Evaluation $v Roč. 39, č. 2 (2020) $1 210 $c Springer 610 $a composition 610 $a area density 610 $a thickness 700 -1
$3 cav_un_auth*0287685 $a Koštejn $b Martin $p UCHP-M $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $w Department of Laser Chemistry $4 070 $z K $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0103253 $a Fajgar $b Radek $p UCHP-M $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $w Department of Laser Chemistry $4 070 $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0103249 $a Dřínek $b Vladislav $p UCHP-M $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $w Department of Laser Chemistry $4 070 $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0270489 $a Jandová $b Věra $p UCHP-M $i Oddělení laserové chemie $j Department of Laser Chemistry $w Department of Laser Chemistry $4 070 $T Ústav chemických procesů AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0261494 $a Novotný $b F. $y CZ 856 $u http://hdl.handle.net/11104/0318917 $9 RIV
Number of the records: 1