Number of the records: 1  

Acquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons

  1. SYS0525062
    LBL
      
    01000a^^22220027750^450
    005
      
    20210803172138.9
    014
      
    $a 85063225896 $2 SCOPUS
    014
      
    $a 000540723700005 $2 WOS
    017
      
    $a 10.1016/j.elspec.2019.03.004 $2 DOI
    100
      
    $a 20200617d m y slo 03 ba
    101
      
    $a eng $d eng
    102
      
    $a NL
    200
    1-
    $a Acquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons
    215
      
    $a 10 s. $c P
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0256949 $1 011 $a 0368-2048 $e 1873-2526 $1 200 1 $a Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena $v Roč. 241, MAY (2020) $1 210 $c Elsevier
    610
      
    $a semiconductors
    610
      
    $a dopant contrast
    610
      
    $a low energy SEM
    610
      
    $a PEEM
    610
      
    $a mirror electron microscopy
    610
      
    $a surface treatments
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $o D1: Elektronová mikroskopie $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $z K $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $p UPT-D $o D1: Elektronová mikroskopie $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0014260 $a El Gomati $b M. M. $y GB
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $o D1: Elektronová mikroskopie $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $o D1: Elektronová mikroskopie $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $p UPT-D $o D1: Elektronová mikroskopie $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    856
      
    $u https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036820481830135X $9 RIV
Number of the records: 1