Number of the records: 1
Acquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons
SYS 0525062 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103224147.3 014 $a 85063225896 $2 SCOPUS 014 $a 000540723700005 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.elspec.2019.03.004 $2 DOI 100 $a 20200617d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a NL 200 1-
$a Acquisition of the dopant contrast in semiconductors with slow electrons 215 $a 10 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256949 $1 011 $a 0368-2048 $e 1873-2526 $1 200 1 $a Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena $v Roč. 241, MAY (2020) $1 210 $c Elsevier 610 $a semiconductors 610 $a dopant contrast 610 $a low energy SEM 610 $a PEEM 610 $a mirror electron microscopy 610 $a surface treatments 700 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $z K $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0014260 $a El Gomati $b M. M. $y GB 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $u https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036820481830135X $9 RIV
Number of the records: 1