Number of the records: 1
Er implantation into various cuts of ZnO - experimental study and DFT modelling
SYS 0520885 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103223549.3 014 $a 85073993437 $2 SCOPUS 014 $a 000503725300059 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.jallcom.2019.152455 $2 DOI 100 $a 20200124d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a CH 200 1-
$a Er implantation into various cuts of ZnO - experimental study and DFT modelling 215 $a 14 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256854 $1 011 $a 0925-8388 $e 1873-4669 $1 200 1 $a Journal of Alloys and Compounds $v Roč. 816, č. 3 (2020) $1 210 $c Elsevier 610 $a Erbium 610 $a ZnO 610 $a Ion implantation 610 $a Density functional theory modelling 610 $a Rutherford backscattering spectroscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0014733 $a Nekvindová $b P. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0267086 $a Cajzl $b J. $y CZ 701 -1
$3 cav_un_auth*0100958 $a Macková $b Anna $p UJF-V $i Oddělení neutronové fyziky $j Department of Neutron Physics $k ONF $w Research with Beams of Ions and Neutrons $T Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0227604 $a Malinský $b Petr $p UJF-V $i Oddělení neutronové fyziky $j Department of Neutron Physics $k ONF $w Research with Beams of Ions and Neutrons $T Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100426 $a Oswald $b Jiří $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $w Semiconductors $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0330330 $a Bottger $b R. $y DE 701 -1
$3 cav_un_auth*0230828 $a Yatskiv $b Roman $p URE-Y $i Příprava a charakterizace nanomateriálů $j Synthesis and Characterization of Nanomaterials $w Synthesis and characterization of nanomaterials $y UA $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i. 856 $u https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2019.152455 $9 RIV
Number of the records: 1